：芯片不过关，后果很严重！ 芯片级EOS测试，是通过模拟电源浪涌、电流过载等电气过应力场景，精准评估芯片耐受极限和失效机理的关键技术！它结合高精度脉冲源和实时监测，帮你定位电路设计缺陷、发现防护结构薄弱点，直接提升产品耐压能力和整体可靠性！ 服务内容： ✅ Surge浪涌测试，支持可调方波脉冲 ✅ 覆盖范围：集成电路（IC）、分立器件、模块、晶圆、系统级产品 检测标准严格执行： * IEC 61000-4-5:2017 * GB/T 17626.5-2019 检测项目全公开：

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